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致茂3760太陽(yáng)能電池自動(dòng)檢測(cè)及效率分級(jí)系統(tǒng) 適用于6吋單晶和多晶太陽(yáng)能電池 在燒結(jié)爐出料端，藉由CCD 取像定位后，使用伯努力吸盤(pán)把電池片快速移載至傳送機(jī)構(gòu) 入料端暫存區(qū)設(shè)計(jì)，可以避免上下游設(shè)備保養(yǎng)停機(jī)

致茂Chroma 3813觸碰面板多點(diǎn)半自動(dòng)測(cè)試機(jī) 可靠的觸碰面板測(cè)試機(jī) 適合數(shù)字式觸碰面板與模擬式觸碰面板 面板尺寸 : 6 inch x 3 sites or 12.1 inch x 1 sites 同時(shí)上料測(cè)試6個(gè)待測(cè)物 無(wú)測(cè)試面板壓壞的問(wèn)題 精準(zhǔn)荷重 : 15g~1000g : 誤差≦±3g 可畫(huà)點(diǎn)、直線(xiàn) （e.g. X, □）

致茂Chroma 3260C 三溫系統(tǒng)板測(cè)試分類(lèi)機(jī) 可靠的高速Pick & Place分類(lèi)機(jī) 同步吸嘴雙取與雙放設(shè)計(jì) 浮動(dòng)頭可有效率平衡測(cè)試壓力 IC殘留檢測(cè)功能 通用治具設(shè)計(jì) Nitro TEC主動(dòng)式溫控技術(shù)導(dǎo)入 支援Full Range （-40°C~125°C） 測(cè)試溫度 更快速的升降溫反應(yīng)速度

致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測(cè)試分類(lèi)機(jī) 整合SD卡測(cè)試機(jī)與自動(dòng)分類(lèi)機(jī)功能 平行測(cè)試120個(gè)micro SD卡 Test-In-Tray UPH = 5400 （以70秒的測(cè)試時(shí)間為例） 支援SD卡資料通訊協(xié)定 支援DC參數(shù)量測(cè)功能 Microsoft Windows XP OS

致茂Chroma 3270微型 IC 測(cè)試分類(lèi)機(jī) 適合 CMOS 影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求 可靠的高速 Pick&Place 分類(lèi)機(jī) 3x3 mm 微型 IC 處理能力 浮動(dòng)頭可有效率平衡測(cè)試壓力 自動(dòng)測(cè)試壓力學(xué)習(xí) IC 殘留檢測(cè)功能